Biểu đồ kiểm soát X-bar có giới hạn kiểm soát và một điểm ngoài giới hạn trong xưởng gia công
Quảng cáo

Kiểm soát quy trình bằng thống kê là gì

Mọi quy trình đều biến thiên. Hai trục gia công trên cùng một máy tiện, bởi cùng một người vận hành, với cùng một chương trình, không bao giờ ra đúng cùng một đường kính. Kiểm soát quy trình bằng thống kê (SPC) bắt sự biến thiên ấy làm việc: thay vì phát hiện vấn đề ở khâu kiểm tra cuối, nhóm theo dõi quy trình khi nó đang chạy và phản ứng khi hành vi của nó thay đổi.

Công cụ cốt lõi của SPC là biểu đồ kiểm soát: đồ thị một phép đo theo thời gian với đường tâm và hai giới hạn tính từ dữ liệu của chính quy trình. Các điểm nằm trong giới hạn và không có kiểu mẫu nghĩa là quy trình ổn định. Một điểm nằm ngoài, hay một chuỗi đáng ngờ, nghĩa là có điều gì đã đổi và đáng chú ý trước khi nó thành phế phẩm.

Nguồn gốc: từ Shewhart đến công nghiệp Nhật Bản

Walter A. Shewhart đề xuất biểu đồ kiểm soát vào những năm 1920 khi làm việc tại Bell System ở Hoa Kỳ. Theo NIST/SEMATECH e-Handbook of Statistical Methods, mô hình của Shewhart đặt đường tâm và các giới hạn từ trung bình và độ lệch chuẩn của thống kê được vẽ. Ý tưởng đơn giản: tách biến thiên vốn có của hệ thống khỏi biến thiên có nguyên nhân chỉ ra được.

W. Edwards Deming mang các ý tưởng này sang Nhật Bản sau chiến tranh, và kiểm soát thống kê trở thành một phần nền tảng chất lượng của sản xuất Nhật. Ngày nay SPC xuất hiện trong yêu cầu khách hàng ngành ô tô, trong giai đoạn Control của DMAIC Six Sigma và ở bất kỳ nhà máy nào phải chứng minh quy trình của mình dự đoán được.

Biến thiên do nguyên nhân thông thường và nguyên nhân đặc biệt

Nguyên nhân thông thườngNguyên nhân đặc biệt
Là gìBiến thiên tự nhiên của hệ thống: khác biệt nhỏ về vật liệu, nhiệt độ, mài mòn thông thườngSự kiện có nguyên nhân chỉ ra được: dao gãy, lô vật liệu ngoài đặc tính kỹ thuật, chương trình bị sửa
Tần suấtLuôn hiện diệnThỉnh thoảng
Trên biểu đồCác điểm trong giới hạn, không có kiểu mẫuĐiểm vượt giới hạn hoặc kiểu mẫu không ngẫu nhiên
Ai hành độngQuản lý, bằng cách thay đổi hệ thống (máy, phương pháp, thiết kế)Trạm làm việc, ngay lập tức, theo kế hoạch phản ứng

Nhầm lẫn hai loại này là sai lầm tốn kém nhất trong SPC. Chỉnh máy sau mỗi dao động tự nhiên nhỏ, điều Deming gọi là “tampering” (chỉnh quá mức), làm tăng biến thiên thay vì giảm. Bỏ qua tín hiệu nguyên nhân đặc biệt để vấn đề tiếp tục tạo phế phẩm cho đến khi có người nhận ra.

Nên dùng biểu đồ kiểm soát nào

Biểu đồKhi nào dùngLoại dữ liệu
X-bar và RNhóm con nhỏ, từ 2 đến khoảng 10 chi tiếtBiến số (phép đo)
X-bar và SNhóm con lớn hơnBiến số
I-MR (giá trị riêng lẻ)Mỗi lần một số đọc: một mẻ hóa chất, nhiệt độ lòBiến số
pTỷ lệ sản phẩm lỗi, cỡ mẫu thay đổiThuộc tính
npSố đơn vị lỗi, cỡ mẫu cố địnhThuộc tính
cSố khuyết tật trên đơn vị, vùng kiểm tra không đổiThuộc tính
uSố khuyết tật trên đơn vị, cỡ mẫu thay đổiThuộc tính

Phép đo mang nhiều thông tin hơn dữ liệu đạt hoặc không đạt. Bất cứ khi nào một đặc tính đo được, hãy dùng biểu đồ biến số: nó phát hiện sự dịch chuyển sớm hơn và với mẫu nhỏ hơn.

Cách tính giới hạn biểu đồ X-bar và R

Ví dụ: một cell gia công trục có đường kính danh nghĩa 25,00 mm. Mỗi giờ người vận hành đo 5 chi tiết liên tiếp (cỡ nhóm con n = 5). Sau 20 nhóm con, trung bình tổng là X̿ = 25,000 mm và khoảng biến thiên trung bình là R̄ = 0,050 mm.

Biểu đồ X-bar: UCL = X̿ + A₂·R̄ | CL = X̿ | LCL = X̿ − A₂·R̄. Biểu đồ R: UCL = D₄·R̄ | CL = R̄ | LCL = D₃·R̄.

nA₂D₃D₄d₂
21,88003,2671,128
31,02302,5741,693
40,72902,2822,059
50,57702,1142,326

Với n = 5, giới hạn kiểm soát trên (UCL) của biểu đồ X-bar là 25,000 + 0,577 × 0,050 = 25,029 mm và giới hạn kiểm soát dưới (LCL) là 24,971 mm. Trên biểu đồ R, UCL = 2,114 × 0,050 = 0,106 mm và LCL = 0.

Giới hạn kiểm soát không phải giới hạn đặc tính kỹ thuật. Giới hạn kiểm soát là tiếng nói của quy trình, tính từ dữ liệu. Giới hạn đặc tính kỹ thuật là tiếng nói của khách hàng, lấy từ bản vẽ. Một quy trình có thể được kiểm soát mà vẫn làm ra chi tiết ngoài dung sai, và điều ngược lại cũng xảy ra.

Nguồn của công thức và hằng số: NIST/SEMATECH, Shewhart X-bar and R and S Control Charts.

Đọc biểu đồ: các tín hiệu nguyên nhân đặc biệt

Một điểm vượt giới hạn là tín hiệu được biết đến nhiều nhất, nhưng không phải duy nhất. Các quy tắc Western Electric, do NIST trình bày, chia biểu đồ thành các vùng 1, 2 và 3 sigma và đánh dấu:

Nhiều quy tắc hơn nghĩa là nhiều báo động giả hơn. Chọn một bộ, ghi vào quy trình và giữ nguyên.

Khi xuất hiện tín hiệu, người vận hành làm theo kế hoạch phản ứng của trạm: cách ly mọi thứ làm ra từ nhóm con tốt gần nhất, gọi tổ trưởng, tìm nguyên nhân (5 Why hữu ích) và ghi vào nhật ký sự kiện của biểu đồ. Tinh thần giống jidoka: dừng ngay ở dấu hiệu đầu tiên để không lỗi nào đi xuống công đoạn sau.

Quảng cáo

Triển khai SPC từng bước

  1. Chọn vài đặc tính quan trọng, những đặc tính khách hàng cảm nhận được hoặc gây nhiều phế phẩm nhất. Bắt đầu với hàng chục biểu đồ là cách nhanh nhất để biến SPC thành giấy tờ.
  2. Xác nhận hệ thống đo lường. Nếu dụng cụ đo biến thiên gần bằng quy trình, biểu đồ cuối cùng đo chính dụng cụ. Nghiên cứu gauge R&R giải quyết việc này.
  3. Xác định nhóm con hợp lý và tần suất: các chi tiết liên tiếp lấy cùng nhau, đủ thường xuyên để bắt được sự dịch chuyển trước khi nó thành một lô mất.
  4. Thu thập 20 đến 25 nhóm con, tính giới hạn và kiểm tra tính ổn định. Nếu nguyên nhân đặc biệt xuất hiện trong giai đoạn này, điều tra, loại bỏ và tính lại.
  5. Đào tạo người vận hành đo, vẽ và phản ứng. Biểu đồ nằm tại trạm làm việc như một phần của quản lý trực quan.
  6. Chỉ điều chỉnh giới hạn khi quy trình thực sự thay đổi, chẳng hạn sau một cải tiến đã được chứng minh.

Ví dụ trong công nghiệp

Ổn định trước, năng lực sau

Năng lực chỉ có ý nghĩa với quy trình ổn định. Khi biểu đồ được kiểm soát, có thể ước lượng sigma bằng σ = R̄ / d₂. Trong ví dụ, σ = 0,050 / 2,326 ≈ 0,0215 mm. Nếu đặc tính của trục là 25,00 ± 0,10 mm:

Cp = (USL − LSL) / 6σ = 0,20 / 0,129 ≈ 1,55. Cpk = min[(USL − trung bình) / 3σ, (trung bình − LSL) / 3σ].

Khi quy trình căn giữa ở 25,000, Cpk cũng khoảng 1,55. Nếu trung bình trôi tới 25,05, Cp vẫn như cũ nhưng Cpk giảm còn khoảng 0,78, vì quy trình đang áp sát giới hạn trên. Khách hàng thường yêu cầu Cpk tối thiểu 1,33, với giá trị cao hơn cho đặc tính quan trọng hoặc nghiên cứu ban đầu; luôn kiểm tra yêu cầu của khách hàng bạn.

Những sai lầm thường gặp

Lợi ích và danh sách kiểm tra

Ít phế phẩm và làm lại hơn, vì sự dịch chuyển lộ ra trước khi thành lô. Ít phụ thuộc vào kiểm tra cuối: chất lượng được kiểm soát tại nguồn. Quyết định dựa trên dữ liệu: biểu đồ cho biết khi nào cần hành động và, quan trọng không kém, khi nào nên để quy trình yên. Cơ sở đáng tin cậy cho nghiên cứu năng lực và dự án cải tiến. Người vận hành làm chủ chất lượng của trạm mình.

Danh sách kiểm tra triển khai:

Bước tiếp theo

Chọn một đặc tính quan trọng ở xưởng của bạn, xác nhận phép đo, thu thập 20 nhóm con và tính giới hạn như trong ví dụ. Khi xuất hiện nguyên nhân đặc biệt, xử lý tận gốc bằng biểu đồ Ishikawa và dùng biểu đồ Pareto để xếp ưu tiên. Để lường trước lỗi trước khi chúng xảy ra, xem thêm FMEA.

Câu hỏi thường gặp

SPC viết tắt của gì?

Statistical process control, tức kiểm soát quy trình bằng thống kê: dùng công cụ thống kê, chủ yếu là biểu đồ kiểm soát, để theo dõi quy trình và tách biến thiên tự nhiên khỏi nguyên nhân đặc biệt.

Khác nhau giữa giới hạn kiểm soát và giới hạn đặc tính kỹ thuật là gì?

Giới hạn kiểm soát được tính từ dữ liệu quy trình và cho thấy quy trình làm được gì. Giới hạn đặc tính kỹ thuật đến từ khách hàng hoặc bản vẽ và cho thấy điều gì chấp nhận được.

Cần bao nhiêu nhóm con để đặt giới hạn kiểm soát?

Thông lệ là 20 đến 25 nhóm con từ một quy trình ổn định trước khi cố định giới hạn.

Khi nào dùng biểu đồ p thay vì X-bar và R?

Khi dữ liệu là thuộc tính, như chi tiết tốt hay xấu. Nếu đặc tính đo được, biểu đồ X-bar và R phát hiện sự dịch chuyển sớm hơn.

SPC có giống Six Sigma không?

Không. SPC là công cụ giám sát; Six Sigma là phương pháp luận dự án cải tiến, dùng SPC ở giai đoạn Control của DMAIC.

Nguồn tham khảo

  1. NIST/SEMATECH e-Handbook of Statistical Methods. What are Variables Control Charts? https://www.itl.nist.gov/div898/handbook/pmc/section3/pmc32.htm
  2. NIST/SEMATECH e-Handbook of Statistical Methods. Shewhart X-bar and R and S Control Charts. https://www.itl.nist.gov/div898/handbook/pmc/section3/pmc321.htm
  3. MONTGOMERY, D. C. Introduction to Statistical Quality Control. Hoboken: Wiley.
  4. ASQ. Control Chart. Quality Resources. https://asq.org/quality-resources/control-chart

Các nguồn bằng tiếng Anh, trừ khi có ghi chú khác.

Quảng cáo
Ảnh Vagner Soares

Về tác giả

Vagner Soares

Chuyên gia Lean Manufacturing và quản trị hành vi

Hơn 20 năm trong ngành ô tô và cơ khí kim loại (GM và Dana), thực hành Lean Manufacturing từ năm 2006. Là giảng viên SENAI và cố vấn của chương trình Brasil Mais Produtivo (Brazil), ông đã tư vấn, đào tạo và đánh giá cho hơn 50 doanh nghiệp, kết hợp chất lượng, năng suất và phát triển con người.