Monitor com carta de controle e um ponto acima do limite superior, ao lado de uma máquina com torre de sinalização
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O que é CEP

Todo processo varia. Dois eixos usinados na mesma máquina, pelo mesmo operador e com o mesmo programa nunca saem com o diâmetro idêntico. O Controle Estatístico de Processo (CEP) usa essa variação a favor da fábrica: em vez de descobrir o problema na inspeção final, a equipe acompanha o processo enquanto ele roda e reage quando o comportamento muda.

A ferramenta central do CEP é a carta de controle: um gráfico da medida ao longo do tempo, com uma linha central e dois limites calculados com os dados do próprio processo. Pontos dentro dos limites e sem padrão indicam um processo estável. Um ponto fora, ou uma sequência suspeita, indica que algo mudou e merece investigação antes de virar refugo.

Mapa visual do CEP

O mapa abaixo resume o conceito, os elementos, uma carta X-barra com sinal de causa especial, o antes e depois de uma linha de usinagem e o passo a passo de implantação. Ele pode ser baixado e usado em treinamentos e no quadro do setor.

Mapa visual do CEP: conceito, elementos, carta X-barra com sinal de causa especial, antes e depois, benefícios e passo a passo
Mapa visual 01: CEP e cartas de controle. Clique no mapa para ver em tamanho real.Baixar o mapa em PNG

Origem: de Shewhart à indústria japonesa

A carta de controle foi proposta por Walter A. Shewhart nos anos 1920, no sistema Bell, nos Estados Unidos. Segundo o NIST/SEMATECH e-Handbook of Statistical Methods, o modelo de Shewhart define a linha central e os limites a partir da média e do desvio padrão da estatística acompanhada. A ideia simples por trás disso é separar a variação que faz parte do sistema daquela que tem causa identificável.

W. Edwards Deming levou essas ideias ao Japão no pós-guerra, e o controle estatístico virou parte da base de qualidade da indústria japonesa. Hoje o CEP aparece em requisitos de clientes automotivos, na fase de controle do Six Sigma e em qualquer fábrica que precise provar que seu processo é previsível.

Causas comuns e causas especiais

Entender os dois tipos de variação é metade do CEP:

Causa comumCausa especial
O que éVariação natural do sistema: pequenas diferenças de material, temperatura, desgaste normalEvento com causa identificável: ferramenta quebrada, lote de material fora do padrão, programa alterado
FrequênciaSempre presenteEsporádica
Na cartaPontos dentro dos limites, sem padrãoPonto fora do limite ou padrão não aleatório
Quem ageA gestão, mudando o sistema (máquina, método, projeto)O próprio posto, de imediato, pelo plano de reação

O erro mais caro é confundir os dois. Ajustar a máquina a cada pequena variação natural, o famoso ajuste por reflexo, aumenta a variação em vez de reduzir. Ignorar um sinal de causa especial deixa o problema produzindo refugo até alguém perceber.

Qual carta de controle usar

CartaQuando usarTipo de dado
X-barra e RSubgrupos pequenos, de 2 a cerca de 10 peçasVariável (medida)
X-barra e SSubgrupos maioresVariável
I-MR (individuais)Uma medida por vez: lote químico, temperatura de fornoVariável
pProporção de itens defeituosos, amostra de tamanho variávelAtributo
npNúmero de itens defeituosos, amostra de tamanho fixoAtributo
cNúmero de defeitos por unidade, área de inspeção fixaAtributo
uDefeitos por unidade, tamanho de amostra variávelAtributo

Dados de medida carregam mais informação que dados de passa ou não passa. Sempre que a característica puder ser medida, prefira as cartas por variáveis: elas percebem a mudança mais cedo e com amostras menores.

Como calcular os limites da carta X-barra e R

Exemplo: uma célula usina eixos com diâmetro nominal de 25,00 mm. A cada hora, o operador mede 5 peças consecutivas (subgrupo de n = 5). Depois de 20 subgrupos, a média das médias deu X̿ = 25,000 mm e a média das amplitudes deu R̄ = 0,050 mm.

Carta da média: LSC = X̿ + A₂·R̄  |  LC = X̿  |  LIC = X̿ − A₂·R̄
Carta da amplitude: LSC = D₄·R̄  |  LC = R̄  |  LIC = D₃·R̄

nA₂D₃D₄d₂
21,88003,2671,128
31,02302,5741,693
40,72902,2822,059
50,57702,1142,326

Com n = 5, o LSC da média fica em 25,000 + 0,577 × 0,050 = 25,029 mm e o LIC em 24,971 mm. Na carta da amplitude, LSC = 2,114 × 0,050 = 0,106 mm e LIC = 0.

Limite de controle não é limite de especificação. O limite de controle é a voz do processo, calculado com os dados. A especificação é a voz do cliente, que vem do desenho. Um processo pode estar sob controle e ainda produzir fora da tolerância, e o contrário também acontece.

Fonte: NIST/SEMATECH, Shewhart X-bar and R and S Control Charts.

Como ler a carta: os sinais de causa especial

O ponto fora do limite é o sinal mais conhecido, mas não o único. As regras da Western Electric, apresentadas pelo NIST, dividem a carta em faixas de 1, 2 e 3 desvios padrão e consideram sinal:

  1. 1 ponto além de 3 desvios, fora do LSC ou do LIC.
  2. 2 de 3 pontos consecutivos além de 2 desvios, do mesmo lado.
  3. 4 de 5 pontos consecutivos além de 1 desvio, do mesmo lado.
  4. 8 pontos consecutivos do mesmo lado da linha central.

Quanto mais regras, mais alarmes falsos. Escolha um conjunto, escreva no procedimento e mantenha.

Diante de um sinal, o operador segue o plano de reação do posto: segrega o que foi produzido desde a última amostra boa, avisa o líder, investiga a causa (os 5 porquês ajudam) e anota tudo no diário de bordo da carta. É o mesmo espírito do jidoka: parar no primeiro sinal para não passar defeito adiante.

Fonte: NIST/SEMATECH, What are Variables Control Charts?.

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Como implantar o CEP passo a passo

  1. Escolha poucas características críticas, as que o cliente sente ou que geram mais refugo. Começar com dezenas de cartas é o caminho mais rápido para o CEP virar papel.
  2. Valide o sistema de medição. Se o instrumento varia quase tanto quanto o processo, a carta passa a medir o instrumento. Um estudo de repetibilidade e reprodutibilidade (R&R) tira a dúvida.
  3. Defina o subgrupo racional e a frequência: peças consecutivas, retiradas juntas, com frequência suficiente para pegar a mudança antes que ela vire lote perdido.
  4. Colete de 20 a 25 subgrupos, calcule os limites e confira a estabilidade. Se houver causas especiais nesse período, investigue, elimine e recalcule.
  5. Treine o operador para medir, plotar e reagir. A carta fica no posto, à vista, como parte da gestão visual.
  6. Revise os limites só quando o processo mudar de verdade, por exemplo depois de uma melhoria comprovada.

Exemplos industriais

Estabilidade primeiro, capabilidade depois

Só faz sentido calcular a capabilidade de um processo estável. Com a carta sob controle, o desvio padrão pode ser estimado por σ = R̄ / d₂. No exemplo, σ = 0,050 / 2,326 ≈ 0,0215 mm. Se a especificação do eixo for 25,00 ± 0,10 mm:

Cp = (LSE − LIE) / 6σ = 0,20 / 0,129 ≈ 1,55
Cpk = menor entre (LSE − média) / 3σ e (média − LIE) / 3σ

Com o processo centrado em 25,000, o Cpk também fica perto de 1,55. Se a média desviar para 25,05, o Cp continua igual, mas o Cpk cai para cerca de 0,78, porque o processo encosta no limite superior. É comum o cliente exigir Cpk mínimo de 1,33, e valores maiores em características críticas ou estudos iniciais; a referência é sempre o requisito do cliente.

Erros comuns

Benefícios

Checklist de implantação

Perguntas frequentes

O que significa CEP?

Controle Estatístico de Processo: o uso de ferramentas estatísticas, principalmente a carta de controle, para monitorar o processo e separar a variação natural das causas especiais.

Qual a diferença entre limite de controle e limite de especificação?

O limite de controle é calculado com os dados do processo e mostra o que ele consegue fazer. O limite de especificação vem do cliente ou do desenho e mostra o que é aceitável.

Quantas amostras preciso para calcular os limites?

O usual é coletar de 20 a 25 subgrupos de um processo estável antes de fixar os limites.

Quando usar a carta p em vez da X-barra e R?

Quando o dado é atributo, como peça boa ou ruim. Se a característica pode ser medida, a carta X-barra e R detecta mudanças mais cedo.

CEP e Six Sigma são a mesma coisa?

Não. O CEP é uma ferramenta de monitoramento; o Six Sigma é uma metodologia de projetos de melhoria que usa o CEP na fase de controle do DMAIC.

Fontes

  1. NIST/SEMATECH e-Handbook of Statistical Methods. What are Variables Control Charts? https://www.itl.nist.gov/div898/handbook/pmc/section3/pmc32.htm
  2. NIST/SEMATECH e-Handbook of Statistical Methods. Shewhart X-bar and R and S Control Charts. https://www.itl.nist.gov/div898/handbook/pmc/section3/pmc321.htm
  3. MONTGOMERY, D. C. Introdução ao Controle Estatístico da Qualidade. Rio de Janeiro: LTC.

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Sobre o autor

Vagner Soares

Especialista em Lean Manufacturing e Gestão Comportamental

Mais de 20 anos de indústria automotiva e metalmecânica (GM e Dana), especialista em Lean Manufacturing desde 2006. Instrutor e mentor do SENAI no programa Brasil Mais Produtivo, com consultorias, treinamentos e auditorias em mais de 50 empresas, unindo qualidade, produtividade e desenvolvimento de pessoas.