Ingeniero de mantenimiento inspeccionando una bomba centrífuga de enfriamiento en una sala de máquinas industrial, con tuberías y tablero eléctrico al fondo.

Qué es el análisis de árbol de fallas (ATF)

El análisis de árbol de fallas (ATF, o FTA por sus siglas en inglés) parte de una falla no deseada, llamada evento tope, y desciende por causas y combinaciones de causas hasta los eventos básicos, como la falla de un rodamiento o un error de operación. Al unir esos eventos con compuertas lógicas Y y O, el árbol muestra qué combinaciones llevan al evento tope y permite calcular su probabilidad.

Es un análisis deductivo, de arriba hacia abajo. El AMEF (FMEA) hace el camino inverso: parte de cada modo de falla de un componente y pregunta cuál es el efecto. Usa el AMEF para recorrer un diseño o proceso, y el ATF para investigar a fondo una falla grave concreta.

Mapa visual del árbol de fallas

El mapa muestra el árbol del ejemplo, la probabilidad en cada compuerta, los conjuntos de corte y la probabilidad del evento tope.

ÁRBOL DE FALLAS (ATF)
Mapa visual 155: Análisis de árbol de fallas (ATF/FTA): compuertas Y/O y ejemplo. Haz clic en el mapa para verlo a tamaño real.Descargar el mapa en PNG

Símbolos y compuertas lógicas

ElementoSímboloSignificado
Evento topeRectánguloLa falla que se quiere analizar
Evento intermedioRectánguloResultado de una compuerta, aún descomponible
Evento básicoCírculoCausa que no se desarrolla más, con probabilidad conocida
Evento no desarrolladoRomboCausa que no se detalla por falta de datos o de interés
Compuerta OCompuerta de entrada curvaLa salida ocurre si ocurre cualquier entrada
Compuerta YCompuerta de base rectaLa salida ocurre solo si ocurren todas las entradas

La compuerta O suma caminos de falla; la compuerta Y exige coincidencia y por eso representa una protección o redundancia. Cuantas más compuertas Y tenga el árbol, más robusto es el sistema.

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Cómo construir un ATF en 6 pasos

  1. Define el evento tope de forma específica y medible: "bomba de enfriamiento sin caudal", no "falla de refrigeración".
  2. Fija el alcance: límites del sistema, condiciones de operación y período de misión (por ejemplo, 1 año).
  3. Baja un nivel a la vez: pregunta "¿qué es necesario y suficiente para que ocurra este evento?" y une las respuestas con Y u O.
  4. Detente en los eventos básicos, donde hay datos de falla o no tiene sentido seguir desglosando.
  5. Asigna probabilidades a los eventos básicos con el historial de mantenimiento o datos del fabricante.
  6. Calcula de abajo hacia arriba y obtén los conjuntos de corte mínimos.

Fórmulas de las compuertas

Con eventos independientes, las probabilidades se combinan así:

Compuerta Y: P = P1 × P2 × … × Pn  |  Compuerta O: P = 1 − (1 − P1) × (1 − P2) × … × (1 − Pn)

Para una tasa de falla λ constante en un período t, la probabilidad de un evento básico es P = 1 − e−λt. En eventos raros, la compuerta O puede aproximarse con la suma de probabilidades, que siempre sobrestima un poco el resultado. La relación entre tasa de falla y vida del equipo está en el artículo de la curva de la bañera, y las tasas salen de indicadores como el MTBF.

Ejemplo resuelto: bomba de enfriamiento sin caudal

Ejemplo ficticio, período de misión de 1 año, eventos independientes. Evento tope: bomba de enfriamiento sin caudal. Estructura:

CódigoEvento básicoProbabilidad en 1 año
E1Corte de energía de la red0,10
E2El generador de emergencia no arranca0,05
E3Falla del rodamiento0,02
E4Falla del sello mecánico0,03
E5Válvula de succión cerrada por error de operación0,01
CompuertaCálculoResultado
G1 (Y)0,10 × 0,050,005
G2 (O)1 − (1 − 0,02) × (1 − 0,03) = 1 − 0,98 × 0,970,0494
Tope (O)1 − (1 − 0,005) × (1 − 0,0494) × (1 − 0,01)0,0636

La probabilidad del evento tope es 0,0636, o 6,36% al año. Con la aproximación de eventos raros, la suma 0,005 + 0,02 + 0,03 + 0,01 = 0,065 (6,5%) queda cerca, con un error de alrededor de 2%.

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Conjuntos de corte mínimos

Un conjunto de corte es una combinación de eventos básicos que, al ocurrir juntos, provoca el evento tope; el mínimo es el que no se puede reducir sin perder esa propiedad. El ejemplo tiene cuatro:

ConjuntoOrdenDescripciónProbabilidadParte de la suma (0,065)
{E3}1Rodamiento0,02031%
{E4}1Sello mecánico0,03046%
{E5}1Válvula cerrada0,01015%
{E1, E2}2Red y generador0,0058%

Los conjuntos de orden 1 son puntos únicos de falla: un solo evento detiene el sistema. Aquí, el sello mecánico y el rodamiento suman 77% de la probabilidad y merecen acción prioritaria, como un plan de mantenimiento preventivo y repuesto en stock.

Prueba una mejora: un bloqueo con candado en la válvula de succión baja E5 de 0,01 a 0,002. Nuevo tope = 1 − 0,995 × 0,9506 × 0,998 = 0,0560, o 5,60%. La reducción de 0,76 puntos porcentuales muestra la ganancia antes de gastar en el cambio.

Cuándo usar el ATF

Errores comunes y limitaciones

Preguntas frecuentes

¿Qué es el evento tope?

Es la falla no deseada que analiza el árbol, definida de forma específica, como "bomba de enfriamiento sin caudal".

¿Cuál es la diferencia entre la compuerta Y y la compuerta O?

En la compuerta O basta una entrada para que ocurra la salida; en la compuerta Y deben ocurrir todas las entradas al mismo tiempo.

¿Cómo se calcula la probabilidad del evento tope?

De abajo hacia arriba: multiplica las probabilidades en las compuertas Y y usa 1 − ∏(1 − P) en las compuertas O. En el ejemplo, el resultado es 6,36%.

¿Qué es un conjunto de corte mínimo?

Es la menor combinación de eventos básicos que provoca el evento tope. Si tiene un solo evento, es un punto único de falla.

¿Cuál es la diferencia entre ATF y AMEF?

El ATF es deductivo: parte de la falla final y busca las causas. El AMEF es inductivo: parte de la falla de cada componente y evalúa el efecto.

¿El ATF sirve para cualquier sistema?

Sirve para sistemas cuyas fallas se pueden describir con lógica Y/O. Para sistemas con secuencia de eventos o reparación se necesitan métodos adicionales.

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Fuentes

  1. IEC 61025. Fault tree analysis (FTA). International Electrotechnical Commission.
  2. VESELY, W. E. et al. Fault Tree Handbook (NUREG-0492). U.S. Nuclear Regulatory Commission, 1981.
  3. RAUSAND, M.; HØYLAND, A. System Reliability Theory: Models, Statistical Methods, and Applications. Wiley.

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Sobre el autor

Vagner Soares

Especialista en Lean Manufacturing y Gestión del Comportamiento

Más de 20 años en la industria automotriz y metalmecánica (GM y Dana), especialista en Lean Manufacturing desde 2006. Instructor y mentor del SENAI en el programa Brasil Mais Produtivo, con consultorías, capacitaciones y auditorías en más de 50 empresas, uniendo calidad, productividad y desarrollo de personas.